Brewster333 반자동 IC 외관 검사기

Brewster333은 첨단 2D 및 3D 측정 기능을 갖춘 고성능 반자동 IC 외관 검사기입니다.이 장비는 BGA, QFP, QFN과 같은 다양한 IC 제품을 위해 설계되었으며 전통적인 인공 검사를 대체하여 검사 효율성을 크게 향상시킬 수 있습니다.Brewster333은 정확한 검사 데이터와 보고서를 제공할 뿐만 아니라 다양한 제품 요구 사항에 따라 스테이지를 사용자 정의하여 다양한 제품의 호환성과 검사 결과를 보장합니다.

[특징]
• 원클릭 테스트: 원클릭으로 테스트를 시작하여 운영 프로세스를 간소화하고 사용 편의성을 향상시킵니다.
• 캐리어 설정 불필요: 추가 장치 설정 없이 다양한 제품을 신속하게 마운트할 수 있어 준비 시간이 단축됩니다.
• 빠른 검색: 트레이당 2분 이내의 스캔 시간을 제공하여 검색 효율성을 크게 향상시킵니다.
• 인스턴트 보고서 업로드: 테스트 보고서를 즉시 업로드하여 MIS 시스템과 원활하게 연동하여 실시간 데이터 관리 및 분석을 제공합니다.
• 기계 생산 시간 절약: 검사에 필요한 생산 시간을 효과적으로 단축하고 전체 생산 효율을 향상시킨다.
• 테스트 결과 및 사진 저장 기능: 후속 쿼리 및 심층 분석을 위해 테스트 결과를 기록하고 사진을 찍습니다.

[제품 이점]
• 인공 IQC 원료 추출 검사 대체: 인공 추출 검사 작업을 줄이고 검사의 일관성과 정확성을 높이며 원료 공급 품질을 확보합니다.
• 수동 FT 상판 및 프로덕션 자체 검사(IPQC) 교체: 상판 검사와 생산 과정에서 제품의 품질을 보장하는 자동 검사 기능을 제공합니다.
• 트레이 맵 제공: 고객이 데이터를 쉽게 비교하고 추적할 수 있도록 트레이 맵을 생성하고 데이터 관리 및 추적 기능을 향상시킵니다.

[제품 사양]